| Tantárgy neve: Felületvizsgálatok |
Tantárgy Neptun kódja: Nappali: GEMTT202M Tárgyfelelős intézet: ATI - Anyagszerkezettani és Anyagtechnológiai Intézet |
| Tantárgyelem: A_V2 | |
| Tárgyfelelős: Dr. Kuzsella László - egyetemi docens | |
| Közreműködő oktató(k): Dr. Kuzsella László, egyetemi docens | |
| Javasolt félév: 1 | Előfeltétel: |
| Óraszám/hét: Előadás (nappali): 2 Gyakorlat (nappali): 1 | Számonkérés módja: kollokvium |
| Kreditpont: 3 | Munkarend: Nappali |
| Tantárgy feladata és célja: A kurzus hallgatói betekintést kapnak a korszerű felületvizsgáló módszerekbe, azok elméleti hátterébe, alkalmazási területeibe. A tárgy felöleli mind a felület kémiai elemzését, elemanaízisét és szerkezetmegahtározását, valamint a felület mechanikai és tribológiai jellemzését. Tudás: Átfogóan ismeri a műszaki szakterület tárgykörének alapvető tényeit, irányait és határait. Ismeri a műszaki szakterület műveléséhez szükséges általános és specifikus matematikai, természet- és társadalomtudományi elveket, szabályokat, összefüggéseket, eljárásokat. Ismeri a szakterületéhez kötődő fogalomrendszert, a legfontosabb összefüggéseket és elméleteket. Átfogóan ismeri szakterülete fő elméleteinek ismeretszerzési és problémamegoldási módszereit. Alkalmazói szinten ismeri a gépészetben használatos mérési eljárásokat, azok eszközeit, műszereit, mérőberendezéseit. Behatóan ismeri a gépészmérnöki szakterület tanulási, ismeretszerzési, adatgyűjtési módszereit, azok etikai korlátait és problémamegoldó technikáit. Képesség: Képes a műszaki szakterület ismeretrendszerét alkotó diszciplínák alapfokú analízisére, az összefüggések szintetikus megfogalmazására és adekvát értékelő tevékenységre. Képes az adott műszaki szakterület legfontosabb terminológiáit, elméleteit, eljárásrendjét alkalmazni az azokkal összefüggő feladatok végrehajtásakor. Képes önálló tanulás megtervezésére, megszervezésére és végzésére. Képes rutin szakmai problémák azonosítására, azok megoldásához szükséges elvi és gyakorlati háttér feltárására, megfogalmazására és (standard műveletek gyakorlati alkalmazásával) megoldására. Képes megérteni és használni szakterületének jellemző szakirodalmát, számítástechnikai, könyvtári forrásait. Munkája során képes alkalmazni és betartatni a biztonságtechnikai, tűzvédelmi és higiéniai szabályokat, előírásokat. Attitűd: Autonomia és felelősség: Váratlan döntési helyzetekben is önállóan végzi az átfogó, megalapozó szakmai kérdések végiggondolását és adott források alapján történő kidolgozását. | |
| Tárgy tematikus leírása: A tárgy három fő területre fókuszál. 1. A felület kémiai összetételének meghatározása (XRD, AS-XRF, SEM + hullámhossz és energiadiszperzív mikroszonda). 2. A felület morfológiai jellemzése és megjelenítésének lehetőségei, felület-metrológia. 2.1. 2D profilometria, érintőtűs, stylus-os profilométerek, érdesség-paraméterek 2.2. 3D letapogató rendszerek, Konfokális mikroszkópok, lézeres felületletapogatás, digitális mikroszkópok. 3. A felület mechanikai tulajdonságainak jellemzése 3.1. Tribométerek 3.1.1. Száraz súrlódás 3.1.2. Lubrikáció 3.2. Karcvizsgálat 3.3. Keménységmérés, felületi rugalmassági modulus 3.4. Kopáskinetikai modellek | |
| Félévközi számonkérés módja és az aláírás megszerzésének feltétele (Nappali): 1 zárthelyi dolgozat legalább 50%-ban sikeres megírása és 1 féléves feladat szöveges legalább elégséges elkészítése ill. prezentációja | |
| Félévközi számonkérés módja és az aláírás megszerzésének feltétele (Levelező): | |
| Gyakorlati jegy / kollokvium teljesítésének módja, értékelése (Nappali): A félévközi teljesítmény beszámításának aránya a vizsgazárthelyi dolgozat pontszámának 5-10%-a, az írásbeli elégséges szintjének elérése esetén; a kollokviumi jegy a vizsgazárthelyi dolgozat (100 pont) és az azt követő kötelező szóbeli együtteseként alakul ki; az írásbeli rész osztályzata 0-49% = elégtelen, 50-59% = elégséges, 60-70% = közepes, 71-80% = jó, 81-100% = jeles | |
| Gyakorlati jegy / kollokvium teljesítésének módja, értékelése (Levelező): | |
| Kötelező irodalom: | |
| Ajánlott irodalom: Gianangelo Bracco, Bodil Holst: Surface Science Techniques; SPRINGER, ISBN 978-3-642-34243-1, 2013 Peter W. Hawkes, John C.H. Spence: Science of Microscopy; SPRINGER, ISBN 13: 978-0387-25296-4, 2007 | |